射線探傷是利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品的內(nèi)部缺陷，如焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透等體積性缺陷。這種無損探傷方法有獨(dú)特的優(yōu)越性，即檢驗(yàn)缺陷的直觀性、準(zhǔn)確性和可靠性，而且，得到的射線底片可用于缺陷的分析和作為質(zhì)量憑證存檔。但此法也存在著設(shè)備較復(fù)雜、成本較高的缺點(diǎn)，并需要對(duì)射線進(jìn)行防護(hù)。

射線的種類很多，其中易于穿透物質(zhì)的有X射線、γ射線、中子射線三種。這三種射線都被用于無損檢測(cè)，其中X射線和γ射線廣泛用于鍋爐壓力容器焊縫和其他工業(yè)產(chǎn)品、結(jié)構(gòu)材料的缺陷檢測(cè)，而中子射線僅用于一些特殊場(chǎng)合。射線檢測(cè)最主要的應(yīng)用是探側(cè)試件內(nèi)部的宏觀幾何缺陷(探傷)。X射線無損檢測(cè)應(yīng)用領(lǐng)域非常廣泛，在材料測(cè)試、食品檢測(cè)、制造業(yè)、電器、儀器儀表、電子、汽車零部件、醫(yī)學(xué)、生物學(xué)、軍工、考古、地質(zhì)等領(lǐng)域都有不俗的表現(xiàn)。

X射線探傷是無損檢測(cè)主要方法之一，應(yīng)用X射線照相法制造的X射線探傷/診斷設(shè)備是一種應(yīng)用比較廣泛的重要檢測(cè)手段。一般分為工業(yè)X射線探傷機(jī)和醫(yī)用X光機(jī)。

其原理是依據(jù)X射線的穿透作用、差別吸收、感光效應(yīng)、電離效應(yīng)、熒光效應(yīng)及生物效應(yīng)，X射線無損檢測(cè)廣泛應(yīng)用在制造業(yè)、電器、儀器儀表、電子、汽車零部件等行業(yè)的工業(yè)探傷、材料測(cè)試，以及化學(xué)分析、食品檢測(cè)、醫(yī)學(xué)診斷與治療、生物學(xué)、軍工、考古、珠寶鑒定、地質(zhì)等領(lǐng)域用于對(duì)人體、動(dòng)物，以及金屬和非金屬材料、復(fù)合材料進(jìn)行無損檢測(cè)和無損評(píng)價(jià)。

JB/T4730.2-2016 承壓設(shè)備無損檢測(cè)2射線檢測(cè)